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后驱动测试技术
日期：2024-09-20 06:01
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摘要：
后驱动测试工艺
后驱动测试工艺主要用于数字电路的在线测试。其实质是在被测元件的输入级灌入或拉出瞬态大电压，迫使其电位按要求变高或变低，达到对被测元件在线施加测试激励的目的。
为了保证对电路板上的元件运行功能测试，就必需强制驱动元件的逻辑电平，各脚驱动器必需能够吸收或输出足够的电压。根据国际防护标准文件所推荐的后驱动**标准，测试仪的*大驱动电压被设计为240mA，测试时间在200ms以内。通过实验，基本能够较好地对被测元件运行隔离，同时也保证了被测元件的**性。
