ICT，AOI，ATE，XAI，飞针测试比较
日期：2024-09-20 05:43
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摘要：
ICT，AOI，ATE，XAI，飞针测试比较
使用以上设备主要目的都是为了提高生产工艺水平，提高生产质量也就是所谓制程良率。ICTATE飞针测试是通过电气测试检测元件，在检测制程的同时也检测元件的电气良率，并可帮助维修提高出货良率及提高返修效率。就ICT而言，各家软/硬件电路各异，有的硬体设计复杂自我保护性高，硬体不易损坏，测试量程宽信号广，如派捷PTI816。有的设计简单成本低，无相关辅助保护电路设计，如：在待测带电的情况下测试会损坏设备等。
ICT，AOI，ATE，XAI，飞针测试比较
| AOI | ICT | ATE | AXI | 飞针 | |
| 成本 | 较高 | 低 | 高 | 高 | 高 |
| 工作模式 | 光学测试 | 电气测试 | 电气测试 | 光学X射线 | 电气测试 |
| 测试对象 | SMD | SMD/DIP | SMD/DIP | BGA | SMD/DIP |
| 检测重点 | 物理损件 | 电气+物理 | 电气+物理 | 物理损件 | 电气+物理 |
| 开/短路 | 光学测试 | 电气测试 | 电气测试 | 光学测试 | 电气测试 |
| 夹具 | 无 | 有,成本低 | 有,成本很高 | 无 | 无 |
| 时间/速度 | 慢 | 快 | 较快 | 慢 | 很慢 |
| 误判率 | 高 | 低 | 低 | 较低 | 高 |
| 维护费用 | 较低 | 低 | 高 | 高 | 高 |
ICT，AOI，ATE，XAI，飞针测试比较
