JTAG测试应用解决方案
1 边界扫描(boundaryscan)JTAG测试系统方案概述
随着通讯电子技术发展，芯片、单板、系统的复杂度不断提高，体积不断缩小，测试的难度、成本、周期都在急剧增加，基于IEEE1149标准的边界扫描(boundary scan)JTAG测试技术就是在这种背景下应运而生的，并成为业界*成熟的DFT技术。
金鹏飞科技经过不懈努力，自主开发了金鹏飞边界扫描(boundaryscan)JTAG测试系统平台。该JTAG测试产品符合电气电子工程协会IEEE1149标准，可应用于产品设计、原型调试、生产测试、现场安装、维修服务等产品生命周期的全过程JTAG测试需求，对降低测试难度、提高测试质量、提高产品故障定位能力等各个方面都有重大意义。
2 边界扫描(boundaryscan)JTAG测试系统平台
2.1JTAG产品概述
JTAG测试系统软件平台全中文界面，支持WINDOWS NT/2000/XP，自动化程度高，操作便捷 边界扫描(boundary-scan)JTAG测试系统平台以下一代测试平台为目标，产品功能特色显著：提供开发调试、小批量验证、批量生产和市场服务的综合JTAG测试解决方案；集成电路板级/系统级工艺测试诊断、ISP编程、开发调试功能；提供开放的工业级标准脚本开发语言；提供多功能非BS扩展测试；提供文档锁定功能；支持逻辑功能自学习功能；兼容各种标准数据接口等。
2.2边界扫描(boundaryscan)JTAG测试系统平台功能
◆JTAG扫描链路分析测试
◆BS器件安装检查
◆电路板DFT设计检查
◆电路板工艺互连测试
◆故障定位诊断
◆非BS扩展测试
◆物理接口测试
◆电路板可靠性验证
◆CLUSTER逻辑功能验证
◆ASIC芯片功能验证
◆信号采样调试
◆CPU读写调试
◆FLASH加载
◆存储器测试
◆FPGA/EPLD编程
2.3边界扫描(boundary scan)JTAG测试平台软件
| 模块 | 功能 | 描述 |
| 基础管理模块 | JTAG测试工程管理 | 完成JTAG测试工程建立、打开、关闭等操作； 完成对BSDL/网表等JTAG测试工程信息的编译。 完成JTAG测试扫描链编辑、配置及切换操作； |
| JTAG测试基础测试 | 完成JTAG扫描链路自检功能。 | |
| JTAG测试IDCODE测试 | 完成对边界扫描(boundary-scan)器件的IDCODE校验JTAG测试； 确认器件的生产厂商、类型及版本等信息。 确认BS器件安装是否正确，排除错焊、漏焊等缺陷； | |
| JTAG测试USERCODE测试 | 完成USERCODE校验JTAG测试； 确认是否为客户软硬件版本等相关信息； | |
| JTAG测试库管理 | 完成JTAG测试CPU库、FLASH库、合并库等资料的管理； | |
| 生产测试模块 | 互连JTAG测试 | 完成基础可测试网络自动互连JTAG测试； 完成扩展可测试网络自动互连JTAG测试；完成电阻、244等器件网络自动优化处理，提高JTAG测试覆盖率和自动化程度。完成多种互连JTAG测试算法，自动产生JTAG测试矢量[ATPG]； 完成多种JTAG测试故障诊断算法，故障定位及效率大大提升。 |
| 脚本JTAG测试 | 提供标准工业级脚本测试功能； 支持工程师实现各种交互测试功能的JTAG测试二次开发：FIFO总线、RAM总线、PCI总线等，可以使用脚本对各信号进行控制，从而完成相关的功能测试； 支持对外围接口电路进行仿真测试；支持对非BS器件扩展的JTAG测试开发：支持AD、DA、接插件及其他非BS器件信号的测试，有效提升JTAG测试覆盖率；支持资源共享和JTAG测试项的快速开发； | |
| 存储器JTAG测试 | 完成存储器外围互连JTAG测试和单元功能测试； 支持多种测试算法自动生成JTAG测试矢量； 支持存储器的BIST JTAG测试； 完成多种缺陷的JTAG测试检测定位； | |
| RUNBISTJTAG测试 | 完成BIST结构芯片的内部功能JTAG自测试； 支持ASIC芯片设计的JTAG验证测试； | |
| INTESTJTAG测试 | 完成芯片的INTEST内部功能比对JTAG测试； 支持ASIC芯片设计的JTAG测试验证 ； | |
| 自学习JTAG测试 | 完成组合逻辑电路、时钟信号及网络短路故障的自学习JTAG测试覆盖，提高JTAG测试覆盖率和自动化测试能力； | |
| CLUSTERJTAG测试 | 完成非BS组合逻辑电路功能的比对JTAG测试，提升JTAG测试效率和覆盖率； | |
| JTAG测试列项管理 | 完成各项目的列表JTAG测试功能； 自动生成加载各种JTAG测试项，甚至包括测试脚本的执行等，简化生产测试操作，提高生产测试操作效率，降低出错的可能性。支持文件锁定功能，具有下一带测试工具显著特征； | |
| 数据加载模块 | FLASH加载 | 完成单板焊接完成后各种通用FLASH的在线加载和E2PROM的在板编程； 支持狗电路处理或异常的电路设计 |
| PLD/FPGA编程 | 完成PLD/FPGA加载。 支持SVF文件格式。 | |
| 开发调试模块 | JTAG测试网络覆盖分析 | 完成网络进行JTAG测试分类和统计； 完成DFT开发评估指导； 自动生成EXECL格式的JTAG测试覆盖率报告； |
| JTAG测试规范检查 | 完成对设计原理图的网表分析，确保JTAG测试扫描链设计符合规范要求； | |
| JTAG测试故障插入 | 完成各BS器件的定时失效测试，验证单板的容错性能。支持攻击型容错测试的典型手段； | |
| CPU读写JTAG测试 | 完成CPU读写操作仿真，灵活存取各存储器和寄存器数据；支持图形显示接口； | |
| 电路采样JTAG测试 | 完成芯片正常工作下的芯片引脚信号采样、观察和分析。 支持图形化显示。 |
2.4边界扫描(boundary scan)JTAG测试平台硬件
| 模块 | 模块名 | 功能 | 应用场合 |
并口JTAG控制器 | LPT JTAG | 提供并行端口的 JTAG信号输出 | JTAG测试、 研发仿真调试 |
| PCI总线 JTAG 控制器 | PCI JTAG | 提供PCI总线接口的 JTAG 信号输出 | JTAG测试、PLD/FPGA编程、FLASH加载 |
| USB总线 JTAG 控制器 | USB JTAG | 提供USB总线接口的JTAG信号输出 | JTAG 测试、PLD/FPGA编程、FLASH加载 |
3 边界扫描(boundaryscan)JTAG测试平台价值
◆优化用户测试策略和测试流程；
◆加强了客户对复杂产品的生产测试和现场维修测试能力；
◆提高可测试性设计水平；
◆提高了知识传播效率和产品测试程序的及时性和有效性；
◆提升产品质量；
改善因产品复杂性和密度增加导致的测试难度；
改善用户测试故障覆盖率；
完善可靠性测试手段；
◆缩短产品上市时间；
缩短原型调试时间；
缩短生产测试装备开发时间；
缩短生产准备时间；
缩短电路板测试和编程时间；
缩短故障定位诊断时间；
降低了对功能测试的依赖性，有助于突破功能测试的效率瓶颈；
◆降低生产测试成本
降低可编程器件的物流成本；
降低自动测试设备投资；
降低人员培训成本；
降低市场维修服务成本和难度；
◆提供标准的ASIC逻辑设计测试验证工具；
◆灵活的在线加载能力提升了产品定制能力；
