基于ICT的功能测试系统
日期：2024-09-20 08:52
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摘要：
基于ICT的功能测试系统
客户要求:
1,对待测板上运算放大器,AD,TTL,MCU进行功能测试
2,对待测板VCC进行上电
3,要支持JTAG的在线编程
4,需要具用通用性,可以支持多种机种
系统结构:
模块功能
1,PC:对ICT和Power,Function module JTAG 进行控制
2,program power supply:对UUT进行上电,
3,Function module: AD,OP,AD, TTL MCU Function test
4,JTAG module:JTAG在线烧录模块
5,Fixture,提供电源,测试点,JTAG触点夹具
实现流程:
首先对UUT用PTI816进行静态测试,如果测试PASS,则power supply对UUT进行上电进行JTAG烧录.确认烧录对D后再,TTL,MCU等IC进行功能测试
