ict测试程式整理流程
日期：2024-09-20 01:11
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摘要：
ict测试程式整理流程
1． 将待整理程式拷贝到安装好了测试软件的电脑并调用它；
2． 进入元件编辑画面后按‘ALT+S’以实际值排序（TR程式中的跳线、电阻、电容按实际值排序，D和Q按名称排序）；
3． 根据BOM将无元件项SKIP并标示/NC；
4． 将JP测试步骤设成区域，实际值全改为4JP/+-30%后按‘ALT+F9’整个区域测试一遍（不放板的情况下），再将**项目SKIP并在每项的元件名后加上‘/NP’即同点号项；
5． 将程式中A/B点中点号为‘0’的项目SKIP并在每项的元件名后加上‘/NP’即无点号项；
6． 再将保险、跳线项的实际值改为2JP/+10%-60%；
7． 将小电阻的标准值改大如：2O改为3O、3.3O改为5O，+30%-80%、大于10O小于100O的改为+-30%，小于4。7KO的用D1模式大于4。7KO的用CV模式测试；
8． 电阻并联的标示出来，大电阻并小电阻的大余十陪以的大电阻不可测
9． 18PF以下的电容直接SKIP，220PFC以下的电容用A5测试，其它PF级的电容用A4测试；
10． 再将电容项逐一接‘ALT+J’查看并联情况，若有并联的则在元件后标上所并元件，并视情况是SKIP或修改标准值；
11． 若有测电容极性，一般要做两步来测；
12． 电感以感量测试上下限30% 一般以2JP测试，上限10% 下限60% （客户要求）
13． LED用LV延时5或8，实际值3V，标准值1.8V;
14． 普通D做正反两步来测，Q用两步DT，另加一步饱和导通测试
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