简单介绍：
GUT-6000B 数字IC测试仪 支持54/74系列TTL和4000及4500系列高速CMOS
详情介绍：
| 特点 |
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循环测试 自动搜寻 IC 编号功能 开机自我侦测诊断功能 过载保护功能 可测量的IC 种类超过 1800 种 54/74 系列 TTL 及高速 CMOS 4000 及 4500 系列 CMOS 测试针脚: 28 Pin |
产品规格
| 测试范围 | |
| 54/74 系列 TTL | |
| 4000 及 4500 系列 CMOS | |
| 测量种类 | |
| 约 1800 种 | |
| 测试电压 | |
| 5V DC | |
| 测试时间 | |
| 高测试速度，平均 0.8 秒可完成一个 IC | |
| 电源 | |
| 交流 100V~240V +10%, 50/60Hz | |
| 尺寸&重量 | |
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335(宽) x 105(高) x 300(长) mm 约 1.5 公斤 |
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配件
使用手册 x1,电源线 x1
